姓名:牛晨旭

成员身份:硕士研究生

邮箱:3220242201@bit.edu.cn

研究方向:HfO系薄膜可靠性研究

研究领域

  1. 铪基器件制备与测试
  2. 器件可靠性研究

教育经历

2020-2024 大连理工大学 集成电路设计与集成系统 本科

2024-至今 北京理工大学 集成电路工程 硕士

学术成果

暂无

竞赛经历

暂无

荣誉奖励

暂无

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