
姓名:牛晨旭
成员身份:硕士研究生
邮箱:3220242201@bit.edu.cn
研究方向:HfO系薄膜可靠性研究
研究领域
- 铪基器件制备与测试
- 器件可靠性研究
教育经历
2020-2024 大连理工大学 集成电路设计与集成系统 本科
2024-至今 北京理工大学 集成电路工程 硕士
学术成果
暂无
竞赛经历
暂无
荣誉奖励
暂无

姓名:牛晨旭
成员身份:硕士研究生
邮箱:3220242201@bit.edu.cn
研究方向:HfO系薄膜可靠性研究
研究领域
教育经历
2020-2024 大连理工大学 集成电路设计与集成系统 本科
2024-至今 北京理工大学 集成电路工程 硕士
学术成果
暂无
竞赛经历
暂无
荣誉奖励
暂无